| 1. Identificação | |
| Tipo de Referência | Artigo em Revista Científica (Journal Article) |
| Site | mtc-m16.sid.inpe.br |
| Código do Detentor | isadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S |
| Identificador | 6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Fk4Hk |
| Repositório | sid.inpe.br/marciana/2005/03.02.10.57 (acesso restrito) |
| Última Atualização | 2017:08.02.19.43.32 (UTC) marciana |
| Repositório de Metadados | sid.inpe.br/marciana/2005/03.02.10.57.51 |
| Última Atualização dos Metadados | 2018:06.05.01.28.49 (UTC) administrator |
| Chave Secundária | INPE-12248-PRE/7580 |
| ISSN | 0022-0248 |
| Chave de Citação | KudlekPGHAPPS:1992:ImDeDi |
| Título | Impurity and defect distribution in ZnTe/GaAs epilayers of different thickness  |
| Projeto | TECMAT: Tecnologia de materiais |
| Ano | 1992 |
| Mês | Feb. |
| Data de Acesso | 18 maio 2024 |
| Tipo Secundário | PRE PI |
| Número de Arquivos | 1 |
| Tamanho | 1091 KiB |
| 2. Contextualização | |
| Autor | 1 Kudlek, K. 2 Presser, N. 3 Gutowski, J 4 Hingerl, K. 5 Abramof, Eduardo 6 Pesek, A. 7 Pauli, H. 8 Sitter, H. |
| Grupo | 1 2 3 4 5 LAS-INPE-MCT-BR |
| Afiliação | 1 Institut für Festkörperphysik, Technische Universität Berlin 2 Institut für Festkörperphysik, Technische Universität Berlin 3 Institut für Festkörperphysik, Technische Universität Berlin 4 Institut für Experimentalphysik, Johannes Kepler Univesität Linz 5 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS) 6 Institut für Experimentalphysik, Johannes Kepler Univesität Linz 7 Institut für Experimentalphysik, Johannes Kepler Univesität Linz 8 Institut für Experimentalphysik, Johannes Kepler Univesität Linz |
| Revista | Journal of Crystal Growth |
| Volume | 117 |
| Número | 1-4 |
| Páginas | 290-296 |
| Histórico (UTC) | 2005-03-02 13:59:15 :: sergio -> administrator :: 2006-09-28 22:36:59 :: administrator -> sergio :: 2008-01-07 12:50:05 :: sergio -> marciana :: 2008-03-14 18:50:58 :: marciana -> administrator :: 2015-10-17 12:31:26 :: administrator -> marciana :: 1992 2017-08-02 19:43:33 :: marciana -> administrator :: 1992 2018-06-05 01:28:49 :: administrator -> marciana :: 1992 |
| 3. Conteúdo e estrutura | |
| É a matriz ou uma cópia? | é a matriz |
| Estágio do Conteúdo | concluido |
| Transferível | 1 |
| Tipo do Conteúdo | External Contribution |
| Tipo de Versão | publisher |
| Palavras-Chave | SENSORS AND MATERIALS Impurity X-ray SENSORES E MATERIAIS Impurezas Raio-x |
| Resumo | For the understanding of impurity incorporation and self-compensation effects, which prevent an efficient n doping of ZnTe, the knowledge of the main acceptor types and their distribution in the layer is imperative. To make progress concerning these problems we investigate systematically ZnTe/GaAs epilayers of different thickness grown by hot-wall epitaxy (HWE) by using optical and X-ray rocking-curve characterization methods. Additionally, ZnTe samples were used which are annealed in vacuum or As atmosphere, as well as free-standing ZnTe samples with the GaAs substrates removed. Based on the experimental results, a model of the acceptor and strain distribution in ZnTe/GaAs epilayers is developed, involving three differently distributed acceptor types originating from source contaminations, As atoms diffused from the GaAs substrate, and dislocation-related centers. Further, we observe a strong relaxation of the thermally induced strain with increasing layer thicknesses. |
| Área | FISMAT |
| Arranjo | urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Impurity and defect... |
| Conteúdo da Pasta doc | acessar |
| Conteúdo da Pasta source | não têm arquivos |
| Conteúdo da Pasta agreement | não têm arquivos |
| 4. Condições de acesso e uso | |
| Idioma | en |
| Arquivo Alvo | 12248.pdf |
| Grupo de Usuários | administrator sergio marciana administrator |
| Grupo de Leitores | administrator marciana |
| Visibilidade | shown |
| Detentor da Cópia | SID/SCD |
| Política de Arquivamento | denypublisher denyfinaldraft24 |
| Permissão de Leitura | deny from all and allow from 150.163 |
| Permissão de Atualização | não transferida |
| 5. Fontes relacionadas | |
| Unidades Imediatamente Superiores | 8JMKD3MGPCW/3ESR3H2 |
| Divulgação | WEBSCI; PORTALCAPES. |
| Acervo Hospedeiro | sid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40 |
| 6. Notas | |
| Campos Vazios | alternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url |
| 7. Controle da descrição | |
| e-Mail (login) | marciana |
| atualizar | |